基本情報
- 所属
- 学習院大学 理学部 物理学科 (名誉教授)
- 学位
- 工学博士(東京大学)
- 通称等の別名
- 四阿山
- J-GLOBAL ID
- 200901060932151740
- researchmap会員ID
- 1000068571
- 外部リンク
研究キーワード
36経歴
10-
2023年4月 - 現在
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2020年4月 - 2024年3月
-
1994年4月 - 2023年3月
-
1998年 - 2000年
-
1986年 - 1994年
学歴
2-
1974年4月 - 1976年3月
-
1971年4月 - 1974年3月
委員歴
12-
2025年6月 - 現在
-
2017年6月 - 現在
-
2021年1月 - 2024年6月
-
2021年6月 - 2024年3月
-
2019年5月 - 2020年5月
受賞
4-
2020年
-
2014年11月
-
1998年
-
1984年
論文
132-
Astrophysical Journal 951 132 (pp. 1-12) 2023年7月 査読有り
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Physical Review B 102(4) 2020年7月27日 査読有り
-
J. Chem. Phys. 152(17) 174310 (pp.1-13) 2020年5月 査読有り
-
Journal of Chemical Physics 150(18) 184302‐184302‐5 2019年 査読有り
-
AIP Advances 8(4) 045313 2018年4月1日 査読有り
MISC
119-
表面科学学術講演会要旨集 35 152-152 2015年極高真空領域での主要な残留気体である水素の排気特性を解明するためには吸着等温線を得る必要がある。広い温度範囲での吸着等温線測定のために、3.8Kまで温度を下げ持続させることができる冷凍機と、ヘリウム減圧機構を組み合わせた2.5Kクライオスタットを製作した。減圧機構により1.8K~3.8Kの範囲で、またHeポット内にあるヒーターを使用することにより3.8K~9.0Kの範囲で、温度制御が可能となった。
-
表面科学学術講演会要旨集 35 376-376 2015年低温表面上に物理吸着した水素の密度を測定するために、電子励起脱離(ESD)法を用いた。脱離したイオンを飛行時間測定法(TOF : time of flight)を用いて質量分析し、H+の収量から水素の吸着密度を決定し、その吸着等温線を求める。本研究では、広い温度範囲での吸着等温線を求めることを目的とする。また、吸着平衡に近づく過渡状態の観測から物理吸着する水素の平均滞在時間を測定する。
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表面科学学術講演会要旨集 35 256-256 2015年ファンデルワールス相互作用によって、水と水素の複合体が形成される。水素の分子内振動は気相において赤外不活性であるが、複合体を形成すると水の双極子電場中で分極し、赤外活性となる。本研究では、固体Xe中のD2OとH2の複合体の赤外分光測定を行った。観測されたH2の誘導吸収はD2Oの濃度に依存する。また、D2OのOD伸縮吸収のピークの低波数側に肩が現れた。これは複合体からの信号と考えられる。
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表面科学学術講演会要旨集 35 161-161 2015年偏光解析法と低速電子線回折法を用いて、銀表面上の希ガス物理吸着層の成長過程及び構造を調べるための試料ホルダーを製作した。面指数の異なる3つの表面Ag(111), (110), (100)を同一表面上に配置し、同じ条件で容易に観測できるようにした。ホルダー自体を銀製とすることで、イオン衝撃によって試料表面を洗浄する際の、異種金属の混入を防いだ。
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表面科学学術講演会要旨集 35 207-207 2015年CH4分子の基準振動ν3, ν4は、強い赤外活性を示す。気相におけるCH4分子の赤外吸収強度に関する研究は多いが、吸着層における詳細な研究はない。我々は、真空容器内でAu薄膜上に形成したCH4凝縮層を、反射赤外分光法により観測した。凝縮層のアニール後、ν3, ν4吸収バンドはCH4分子の回転に起因する分裂を示した。分裂して現れるピークの吸収強度の膜厚・アニール温度依存性を議論する。
書籍等出版物
7講演・口頭発表等
102-
日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1993年9月20日
教育業績(担当経験のある科目)
9-
真空工学 (電気通信大学)
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一般教育物理学実験 (日本女子大学)
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応用物理学 III (真空科学) (学習院大学自然科学研究科)
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応用物理学 I (表面科学) (学習院大学自然科学研究科)
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原子物理学概論 (学習院大学理学部)
Works(作品等)
4共同研究・競争的資金等の研究課題
18-
日本学術振興会 科学研究費助成事業 2017年4月 - 2020年3月
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 2005年 - 2008年
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2001年
-
日本学術振興会 科学研究費助成事業 1998年 - 2000年
産業財産権
4-
2863652
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3045571
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2863652
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3045571